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- American Piezoelectric PCB Sensor
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-
Opterro光纖測量系統
奧林巴斯OLYMPUS Vanta Element-S手持式XRF光譜儀
Vanta Element手持式XRF系列分析儀
經濟實用的XRF檢測
Vanta Element手持式XRF系列分析儀可以對元素進行分析，可以實惠的價格快速完成合金號牌的辨別和分揀。這個系列有兩個高性價比型號：
Vanta Element分析儀可以實惠的價格完成合金辨別
Vanta Element-S分析儀可以實惠的價格完成合金辨別，并探測到包含鎂（Mg）、鋁（Al）、硅（Si）、硫（S）和磷（P）在內的輕元素
兩種型號的分析儀都可以快速辨別合金號牌，并在屏幕上清楚地顯示牌號對比信息，從而可加速金屬檢測，有效完成廢料分揀、金屬制造和貴金屬分析等應用。類似于智能手機的用戶界面，易于學習，使用方便，有助于簡化用戶的培訓過程和分揀過程。
Vanta Element型號 | Vanta Element-S型號 | |
|---|---|---|
| 用途 | 以經濟的成本完成合金的辨別 | 以經濟的成本完成輕元素的探測 |
| 擅長 | 快速基本的分析 | 分析鎂（Mg）、鋁（Al）、硅（Si）、硫（S）和磷（P） |
| 探測器 | PIN | 硅漂移探測器（SDD） |
| 窗口 | 厚聚酰亞胺窗口 | 聚丙烯紡織纖維（Prolene）窗口，帶有聚酰亞胺網格背襯 |
| 激勵源 | 2瓦特X射線管，35 kV鎢（W）陽極靶材 | 4瓦特X射線管，50 kV銀（Ag）陽極靶材 |
XRF分析儀的上等特性
Vanta Element系列分析儀具有連通性能，有助于簡化廢料金屬的回收和質量控制過程。
Vanta分析儀的電子部件
Axon技術的穩定性和計數率
方便的數據管理
具有無線連通性能（可選配），可方便地將數據傳輸到網絡上的文件夾中
使用奧林巴斯的科學云可以實現云數據存儲，并可實時以遠程方式查看數據
直接將數據導出到USB驅動盤中
用于存儲結果的1 GB工業用microSD卡
堅固耐用且經濟實用的手持式XRF分析儀
這款分析儀可用于條件惡劣的環境中，且其擁有成本較低。
符合IP54評級標準，具有防塵和防潮的特性。
通過了墜落測試（MIL-STD-810G），可避免分析儀在墜落時受到損壞，從而減少了對分析儀進行高成本維修的需求。
經過評定，在-10 °C到45 °C的溫度范圍內，可以持續進行檢測。
防磨不銹鋼面板。
無需使用工具即可方便地更換窗口。
Vanta分析儀的技術規格
| Vanta Element型號 | Vanta Element-S型號 | |
|---|---|---|
| 外型尺寸（寬 × 高 × 厚） | 8.3 × 28.9 × 24.2 cm | |
| 重量 | 帶電池時1.54公斤；不帶電池時1.32公斤。 | |
| 激勵源 | 2瓦特X射線管，35 kV鎢陽極靶材 | 4瓦特X射線管，50 kV銀（Ag）陽極靶材 |
| 主光束濾光片 | 8種濾光片位置，根據選擇的光束和方式自動匹配 | |
| 探測器 | Si-PIN探測器 | 硅漂移探測器（SDD） |
| 電源 | 14.4 V可拆卸鋰離子電池，或者18 V電源變壓器，100 ～ 240 VAC，50 ～ 60 Hz，*大70 W | |
| 顯示屏 | 800 × 480（WVGA）電容式液晶顯示觸摸屏，可使用手指進行控制 | |
| 操作環境 |
溫度：?10 °C ～ 45 °C，100 %占空比 濕度：10 % ～ 90 %相對濕度，無冷凝 | |
| 墜落測試 | 通過了美軍標準810-G中的從4英尺（1.22米）高處墜落的測試 | |
| IP評級和探測器快門閘保護 | IP54：防塵，而且可經受來自各個方向的水濺。 | |
| 操作系統 | Linux | |
| 數據存儲 | microSD插槽，并提供1 GB工業用可插拔SD卡 | |
| USB |
2個USB 2.0 A型主端口，用于諸如無線局域網、藍牙和USB閃存驅動盤等配件。 一個USB 2.0袖珍B型端口，用于連接計算機。 | |
| 無線局域網 | 通過可選配的USB適配器，支持802.11 b/g/n（2.4 GHz）無線局域網功能。 | |
| 藍牙 | 通過可選配的USB適配器，支持藍牙功能 | |
| 質保 | 1年質保 | |
| 可選購配件 | 野外臺座、土壤支架和機套 | |
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